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X射線衍射儀

更新時間:2025-10-23      點擊次數:21

適用于:X射線衍射(XRD)設備,搭載高功率Cu靶X射線源,衍射角范圍1°-160°,分辨率優異。支持粉末衍射、薄膜分析、應力測試等模式,可精準解析晶體結構、測定物相組成與晶粒尺寸。配備 Lynxeye XE 探測器,提升數據采集效率,適配金屬、陶瓷、礦物、高分子等樣品,廣泛用于材料科學、地質、化工領域的物相與結構表征。

序號
樣品狀態
樣品量
1
塊狀樣
切割至≤20mm×20mm×5mm
2
粉末樣
需1-3g

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